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小型LCR測(cè)試儀是用來干嘛的呢？下面跟著小編一起去看看吧！它能準(zhǔn)確并穩(wěn)定地測(cè)定各種各樣的元件參數(shù)，主要是用來測(cè)試電感、電容、電阻的測(cè)試儀。它具有功能直接、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)，能以較低的預(yù)算來滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)、電子維修業(yè)對(duì)器件的測(cè)試要求。
小型LCR測(cè)試儀測(cè)試原理：
數(shù)字電橋的測(cè)量對(duì)象為阻抗元件的參數(shù)，包括交流電阻R、電感L及其品質(zhì)因數(shù)Q，電容C及其損耗因數(shù)D。因此，又常稱數(shù)字電橋?yàn)閿?shù)字式LCR測(cè)量?jī)x。其測(cè)量用頻率自工頻到約100千赫。基本測(cè)量誤差為0.02%，一般均在0.1%左右。
Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是:當(dāng)DUT(DeviceUnderTest)接入電路時(shí)，放大器的負(fù)反饋配置自動(dòng)使得OP輸入端虛地。Vx準(zhǔn)確測(cè)定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測(cè)得DUT電流Ix，由此可計(jì)算Zx。
HP4275的測(cè)試端Hp,Hc,Lp,Lc(下標(biāo)c代表current,下標(biāo)p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導(dǎo)致測(cè)試的誤差的差異。
提高精度的方法是:1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT;2,減小測(cè)試電流Ix的回路面積&磁通量(關(guān)鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable最小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構(gòu)建地平面中斷信號(hào)線間的電場(chǎng)連接，雖然會(huì)增加信號(hào)線的對(duì)地電容(對(duì)地電容不影響測(cè)試結(jié)果)，但是會(huì)減少信號(hào)線的互容。
Guard與Cable的對(duì)地寄生阻抗(Zhg,Zlg)不影響測(cè)試結(jié)果，電橋平衡時(shí)Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會(huì)被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測(cè)量。
